מדד h5 הוא מדד h למאמרים שפורסמו במהלך כל חמש השנים האחרונות. זהו מספר h הגדול ביותר שבו פורסמו המאמרים שמהם מורכב מדד h בין השנים 2018-2022, כאשר כל אחד מהם צוטט ביבליוגרפית לפחות h פעמים.הסתר
חציון h5 של פרסום הוא מספר החציון של ציטוטים ביבליוגרפיים ביחס למאמרים שמהם מורכב מדד h5 של אותו פרסום.הסתר
פרסום | מדד h5 | חציון h5 | |
---|---|---|---|
1. | IEEE Electron Device Letters | 70 | 91 |
2. | IEEE Transactions on Electron Devices | 61 | 78 |
3. | IEEE International Electron Devices Meeting, IEDM | 51 | 68 |
4. | Microwave and Optical Technology Letters | 40 | 53 |
5. | Microelectronic Engineering | 39 | 51 |
6. | Journal of Semiconductors | 37 | 56 |
7. | Electronics Letters | 37 | 54 |
8. | IEEE Symposium on VLSI Technology | 37 | 52 |
9. | IEEE Journal of the Electron Devices Society | 37 | 47 |
10. | IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology | 37 | 44 |
11. | Microelectronics Reliability | 35 | 42 |
12. | IEEE Electronic Components and Technology Conference (ECTC) | 30 | 39 |
13. | Solid-State Electronics | 30 | 39 |
14. | Microelectronics Journal | 30 | 37 |
15. | Analog Integrated Circuits and Signal Processing | 27 | 34 |
16. | IEEE Solid-State Circuits Letters | 27 | 33 |
17. | IEEE/MTT-S International Microwave Symposium | 26 | 38 |
18. | Journal of Electronic Packaging | 26 | 30 |
19. | IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) | 23 | 32 |
20. | IEEE Transactions on Device and Materials Reliability | 23 | 31 |
הערכה וקביעה של תאריכים וציטוטים ביביליוגרפיים נעשות באופן אוטומטי על ידי תוכנת מחשב.